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[专利] 发明专利 CN201810110498.5
华中科技大学 2018-08-07
摘要:本发明公开了一种基于反射板组合的镜像综合孔径辐射计成像方法,包括:根据天线阵列与x方向的反射板得到天线阵列输出的第一相关函数构成的第一线性方程组;根据天线阵列与x方向以及y方向的反射板得到天线阵列输出的第二相关函数构成的第二线性方程组;根据天线阵列与y方向的反射板得到天线阵列输出的第三相关函数构成的第三线性方程组;将三个线性方程组进行组合得到包含场景亮温图像信息的目标线性方程组;通过求解包含场景亮温图像信息的目标线性方程组得到余弦可见度函数;利用余弦可见度函数进行反余弦变换,重建场景亮温图像。本发明提高余弦可见度函数的准确性,进而提高成像质量。
[专利] 发明专利 CN201810110499.X
华中科技大学 2018-08-07
摘要:本发明公开了一种基于外部单点源的镜像综合孔径辐射计误差校正方法,包括:采集目标场景的信号以及单点源的信号,撤掉镜像综合孔径辐射计中的双反射板,采集位于双反射板的交线处的校正源的校正数据;利用单点源信号判断校正源的校正数据是否正确,当校正源的校正数据正确时,利用校正源的校正数据校正目标场景信号,得到校正后的相关输出函数;对校正后的相关输出函数进行求解,得到余弦可见度函数;利用余弦可见度函数进行反余弦变换,重建目标场景亮温图像。本发明校正近场误差以及通道幅相误差,提高成像质量。
[专利] 发明专利 CN201810111067.0
华中科技大学 2018-08-07
摘要:本发明公开了一种基于极化信息的镜像综合孔径辐射计成像方法,包括下述步骤:当天线阵列中每个接收天线的主极化方向沿x方向时,得到天线阵列输出的第一相关函数构成的第一线性方程组;当天线阵列中每个接收天线的主极化方向沿y方向时,得到天线阵列输出的第二相关函数构成的第二线性方程组;将第一线性方程组和第二线性方程组进行组合,得到包含场景亮温图像信息的目标线性方程组;通过求解包含场景亮温图像信息的目标线性方程组,得到余弦可见度函数;利用余弦可见度函数进行反余弦变换,重建场景亮温图像。本发明解决线性方程组秩亏问题,提高余弦可见度函数的准确性,进而提高成像质量。
[硕士论文] 吴袁超
电磁场与微波技术 华中科技大学 2019(学位年度)
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