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首页 > 期刊首页 >原子能科学技术 >2011年12期  > SRAM型FPGA的静态与动态单粒子效应试验
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SRAM型FPGA的静态与动态单粒子效应试验
Static and Dynamic Tests of Single-Event Effect in SRAM-Based FPGA
摘要: 静态随机存取存储器(SRAM)型现场可编程门阵列(FPGA)在空间电子设备中取得了广泛的应用.但它内部大量的SRAM型存储单元极易发生单粒子软错误,特别是配置存储器中的单粒子翻转,有可能改变整个电路的结构,给其空间应用带来严重的可靠性问题.因此,有必要开展地面加速器模拟试验以评价该器件对单粒子效应的敏感程度,且对系统在空间中的失效行为进行预估.本工作在重离子...   查看全部>>

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