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首页 > 期刊首页 >理化检验-物理分册 >2007年5期  > 残余应力测定的基本知识第二讲 X射线应力测定的基本原理
残余应力测定的基本知识第二讲 X射线应力测定的基本原理
BASIC KNOWLEDGE OF RESIDUAL STRESS DETERMINATION——LECTURE No.2 BASIC CONCEPT OF STRESS DETERMINATION BY X-RAY
摘要: 用X射线衍射技术来测定材料中的残余应力(或外载应力与残余应力的代数和)称为X射线应力测定.其特点是:①属于物理方法,不改变试件的原始应力状态;②理论严谨,方法成熟;③测定的是表面应力,故对材料的表层状态比较敏感,必须对测试点作恰当的表面处理;④根据特点③,可以借助于电解抛光等手段测定应力沿层深的分布.  

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