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首页 > 期刊首页 >计算机辅助设计与图形学学报 >2007年3期  > 约束输入精简的多扫描链BIST方案
约束输入精简的多扫描链BIST方案
Constraint Input Reduction BIST Scheme for Multiple Scan Chains
摘要: 运用有约束的输入精简、LFSR编码与折叠计数器技术,实现了对确定性测试集的压缩与生成.其主要优点是将多种测试方法有机地结合在一起,充分地发挥了各种方法在压缩测试数据方面的优势.与国际上同类方法相比,该方案需要的测试数据存储容量更少,测试应用时间明显缩短,总体性能得到提升;并且能够很好地适应于传统的EDA设计流.  

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