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首页 > 期刊首页 >光子学报 >2003年4期  > 单模光纤中弯曲损耗的测试与分析
单模光纤中弯曲损耗的测试与分析
Analysis and Test of Bend Loss in Single-mode Fiber
摘要: 对单模光纤中弯曲损耗随弯曲半径(1~8 mm)和波长(1530~1565 nm)变化的实验进行了测试,结果显示弯曲损耗随弯曲半径和波长呈现振荡.理论分析表明由于光纤纤芯中的基模和在包层以及涂覆层中传播的Whispering-gallery模式之间的耦合,引起了弯曲损耗的振荡,理论分析结果和实验结果基本一致.  

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