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首页 > 期刊首页 >半导体学报 >2006年7期  > EEPROM单元的电荷保持特性
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EEPROM单元的电荷保持特性
Data Retention in EEPROM Cells
摘要: 利用理论推导和实验方法对电可擦除可编程只读存储器EEPROM单元在给定电压下的电荷保持特性进行了分析和研究,得出了EEPROM单元电荷保持能力的理论公式,得到了单元保持状态下的电特性曲线,发现在双对数坐标下,阈值电压的退化率与时间成线性关系.在假定电荷流失机制为Fowler-Nordheim隧穿效应的情况下,推出了EEPROM单元在给定外加电压下的电荷保持时...   查看全部>>

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